G200M，G150M和G100M專為計量和科研需求設計，適用于計量機構檢定和校準光學平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，高清光學系統(tǒng)，1-6倍圖像放大功能和精密平面標準鏡等一系列高精技術，選配Sirius抗振移相干涉條紋分析軟件，實現(xiàn)高精密平面光學元件的測量。